UV老化试验箱｜电子元器件封装耐候用于电子元器件封装材料耐候，源工厂自研自产配置UV-A/UV-B 荧光紫外灯，斜塔式 493×300mm（W×H）四块样品区，每块样品架框可放 12 块试样，可编程触摸屏控制器与冷凝、喷淋水路，符合GB/T 23987、GB/T 14522 等方法。

一、电子元器件封装的老化关注点

塑封料、密封胶与线路板涂层在长期光照下会出现表面粉化、变色与介电性能漂移，因此电子元器件的来料检验常把紫外耐候作为一项辅助评价手段。

UV老化试验箱｜电子元器件封装耐候 以荧光紫外灯配合控温、供湿与凝露条件，对封装试样进行加速老化，考察其失光、粉化与龟裂情况，作为可靠性评价的补充数据。

图：HD-E802 斜塔式紫外线老化箱 整机

二、辐照与温湿度条件

辐照温度 50～70℃，冷凝温度 RT～60℃，冷凝周期相对湿度 ≥85%RH，辐照周期 ≤75%RH，两种模式交替模拟昼夜变化。

温度偏差 ±1℃、均匀度 2℃、波动度 ±1℃，分辨率 0.01℃，辐照升温与冷凝升温均不超过 45min。

图：HD-E802 斜塔式紫外线老化箱 样品区与灯管布置

三、小试样与大批量排布

斜塔式样品区共四块，每块 493×300mm，每块样品架框可放 12 块 75×150×2mm 试样，总容量 48 块，适合把不同批次、不同供应商的封装试样并行测试。

试样用弹簧扣固定，装夹时不需要专用工具，实验室日常操作效率较高。

图：HD-E802 斜塔式紫外线老化箱 控制面板

四、辐照一致性的保障

UV-A 灯管共 8 支对称排布，灯管内中心距 70mm，试样表面与灯管中心距离 50±3mm，配合隔离式辐照加热装置与送风系统，保证试样受光一致。

可选配辐照度计（太阳眼）实时测控辐照能量并回传控制器，检测波长 200～480nm，测量范围 0.4～1.6W/m²。

图：HD-E802 斜塔式紫外线老化箱 灯管与辐照系统

五、数据记录与送检对应

控制器可存 120 组程序共 1200 段，程序斜率按时间轴设定，带曲线记录功能，RS-232 通讯接口便于与实验室信息管理系统对接。

本机可执行 GB/T 14522、GB/T 16422.3、ASTM G154、ASTM G153、ISO 4892-3 等方法，与常见送检要求对应。

六、选型与使用建议

以上参数与配置为 UV老化试验箱｜电子元器件封装耐候 的常用规格，实际工况与试样条件可按所执行标准方法调整。灯管为易损件，建议按累计使用时间安排更换并重新标定辐照度；箱体左右及后侧距墙不小于 600mm、正面不小于 800mm，环境温度保持 0～+45℃。

如需按试样尺寸、试验标准与检测节拍配置本机，可进一步沟通技术条件，以便给出合适的规格建议。