高低温试验箱的试验方法与标准如何进行选择   
   高低温试验箱通常被用来做高温试验、低温试验以及高低温试验的组合，其各种试验的试验方法与标准选择一般以以下为准：

   高温和低温试验是zui常见的一种环境试验项目。低温试验对产品产生的影响主要使材料变成脆硬性，致使破损开裂，强度降低，润滑作用减小，电子元器件性能引起变化等。高温试验对产品的影响主要表现在改变材料的物理性能和尺寸，不同的材料膨胀不一致使零件粘结，润滑剂外流使润滑能力损失，电器元件过热损坏，电子电路稳定性改变等。如对带有塑胶件的产品这二项试验就很能够暴露问题。

    高温和低温试验试验一般安排在一套试验的早期，且为相信顺序，这样既能够考核等高温对的耐高温和低温能力也能够达到耐温变试验的效果。高温和低温试验依据国标GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法A：低温试验方法》和GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法B：高温试验方法》。有散热样品温度渐变和非散热样品温度渐变所做的规定来选择，分为高温工作和低温工作试验、高温存储和低温存储试验，据实际样品所属是否散热用工作和存储两种不同温度点和产品状态来进行合适的考量。高温和低温工作试验的温度严酷度一般低于存储类温度5～10℃。在实际检测中先进行工作试验考核后再做关机状态下存储试验，对于部分大电流、高发热的电器产品，其高温工作试验可以代替高温存储试验，因为其工作时温度已经超出其存储温度极限，故只需进行高温工作试验即可。常见的高温工作试验温度有：40℃、50℃，高温存储试验温度有：50℃、55℃，低温工作试验有：0℃、-10℃、-20℃，低温存储试验温度有：-20℃、-40℃，工作试验时间2h～4h～8h，存储试验8h～16h～24h。通常高温和低温试验能够暴露出产品的缺陷如：外壳变形，电性能故障不能正常运行等，从而达到整改的目的。如产品高温可靠性试验也是高温工作试验一种。

    高低温组合也是觉的试验项目(推荐使用可程式高低温试验箱)，多用来更严酷地考核产品内外结构性能和电性能。

a)温度冲击试验-温度突变Na是目前常用来考核元器件和材料一种试验。高低温冲击试验是通过快速温变来达到考核产品的目的，因为属于非工作状态高低温冲击试验的指标上、下限多采用高、低温存储试验的上、下限，可参照试验样品在高、低温存储试验中获得的的温度响应特性等信息。    b)温度变化试验-温度渐变Nb常用来考核整机试验。在试验中产品按要求可处于工作状态，因此温度变化试验的上、下限往往使用高、低温工作试验的上、下限。这二项试验参照的标准有GB/T 2423.22-2002《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化》等，根据实际要求选择高温点和低温点，滞留时间，温变速率，循环次数定试验等级。